儀器儀表塑封半導(dǎo)體器件腐蝕失效危害
儀器儀表塑封半導(dǎo)體器件腐蝕失效危害目前引起了業(yè)界的轟動,很多的同行都在找尋辦法,力挽狂瀾,把損失降到。
儀器儀表塑封半導(dǎo)體器件腐蝕失效表現(xiàn)一:
在硅片上集成有大量電子元件的集成電路芯片及其元件通過導(dǎo)線連接起來構(gòu)成電路。鋁和鋁合金常被當(dāng)作集成電路的金屬導(dǎo)線使用。從進行集成電路塑封工序開始, 水汽便有可能通過環(huán)氧樹脂滲入, 引起鋁金屬導(dǎo)線產(chǎn)生腐蝕進而產(chǎn)生開路現(xiàn)象。為了提高產(chǎn)品質(zhì)量, 進行了各種改進, 包括: 采用不同的環(huán)氧樹脂材料, 改進塑封技術(shù)以及提高非活性塑封膜, 但是, 隨著日新月異的半導(dǎo)體電子器件小型化發(fā)展, 塑封鋁金屬導(dǎo)線腐蝕問題至今仍然沒有得到徹底的解決。

儀器儀表塑封半導(dǎo)體器件腐蝕失效二:
高溫高濕條件作用于試驗樣品上, 可以引發(fā)水汽吸附、吸收和擴散等問題。許多材料在吸濕后膨脹、性能變壞、引起物質(zhì)強度降低及其它主要機械性能的下降, 吸附了水汽的絕材料會引起電性能下降及絕緣性能降低等。
正是因為存在環(huán)境應(yīng)力和各元器件的失效危害,所以,東莞正航設(shè)備有限公司應(yīng)用市場之力量,推出主打的環(huán)境試驗設(shè)備,模擬自然環(huán)境,給各個廠家提供了條件進行試驗,我們追求共贏合作長遠發(fā)展!http://www.dgzhenghang.com